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TFMS-LD反射光谱薄膜测厚仪

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  • 公司名称沈阳科晶自动化设备有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地沈阳市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2023/6/8 16:14:19
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沈阳科晶自动化设备有限公司是由毕业于美国麻省理工学院的江晓平博士于2000年5月创建。与合肥科晶材料技术有限公司、深圳市科晶智达科技有限公司同属于科晶联盟。自SYJ-150低速金刚石切割机诞生以来,沈阳科晶便开始了以赶超国外同行、材料分析设备潮流为目标的发展历程。时至今日,已经拥有涵盖材料切割、研磨、抛光、涂膜、镀膜、混合、压轧、烧结、分析等领域以及相关耗材的上百种产品,可以满足晶体、陶瓷、玻璃、岩相、矿样、金属材料、耐火材料、复合材料、生物材料等制备分析的全套需要。  沈阳科晶立足国内市场实际情况,以提供实用的产品为己任。产品的质量、精度在向国外企业看齐的基础上,产品的价格定位却仅仅是其几分之一。的性价比不仅吸引了众多国内客户,而且令挑剔的外国客商也称赞不已,产品远销于印度、马来西亚、土耳其、波兰、突尼斯、澳大利亚等国家,并大量出口于美国。  沈阳科晶一直致力于高等院校、研究所、生产企业的科研服务,即产品定位于研究市场,主要面向广大高等院校、科研机构、实验室以及工厂的小规模生产。多年以来,已与全国众多高校、研究院所建立了良好的合作、服务关系。其中北京大学、清华大学、浙江大学、哈尔滨工业大学、东北大学等高校,金属研究所、上海硅酸盐研究所、中国科学地质与地球物理研究所等科研机构,中国航天工业集团公司、中国船舶重工集团公司、攀钢集团有限公司等企业都是长期合作的荣誉客户。  沈阳科晶为了更好地服务客户,专门设立了开放式专业实验室,配备了优秀的专业技术人员。在这里,不仅可以提供亲身的产品体验环境,而且还可得到专业人员的操作指导。开设以来,制作的样品达上千件,接待来访客户参观百余次,其中包括多次外国友人的来访。在此,沈阳科晶全体员工诚挚地欢迎您的到来,并希望您能提出宝贵的意见与建议。此外,沈阳科晶拥有优质、高效、专业的销售咨询、售后服务团队,能够为每一位客户提供采购建议与方案、完善的使用指导与售后服务。使每一位客户的需求得到满足是沈阳科晶每个员工不懈努力的目标。  沈阳科晶一路走过的历程,是为我国材料研究事业全力贡献的历程,是以实际行动将自己打造成国内材料分析设备品牌的历程,是与国外同行不断缩小差距的历程,是与广大客户相扶相持的成长历程。虽一路充满坎坷与荆棘,但坚持不懈的沈阳科晶人仍全力以赴的前行。秉承这份坚持,相信在不久的将来,沈阳科晶也将会成为国际市场上专业的、杰出的材料分析设备品牌,沈阳科晶的明天会更加灿烂辉煌。
TFMS-LD反射光谱薄膜测厚仪
TFMS-LD反射光谱薄膜测厚仪 产品信息

产品简介:TFMS-LD反射光谱薄膜测厚仪是一款利用反射光谱测试薄膜厚度的仪器,可快速精确地测量透明或半透明薄膜的厚度而不损伤样品表面的薄膜是一款无损测厚仪,其测量膜厚范围为15nm-50um测量膜厚范围广,尤其适用于超薄薄膜厚度的测量。仪器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm,波长范围广,因此,测试薄膜厚度的范围广TFMS-LD反射光谱薄膜测厚仪测试系统理论基础为镜面纤反射探头,该仪器尺寸小巧可节省实验室空间操作方便,读数直观,方便于在实验室中摆放和使用。

 

产品名称

  TFMS-LD反射光谱薄膜测厚仪

产品型号

TFMS-LD

测量膜厚范围

15nm-50um

光谱波长

400 nm - 1100 nm

主要测量透明或半透明薄膜厚度

氧化物

氮化物

光刻胶

半导体(硅,单晶硅,多晶硅等)

半导体化合物(ALGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS等)

硬涂层(碳化硅,类金刚石炭)

聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)

金属膜

        

特点

测量和数据分析同时进行,可测量单层膜,多层膜,无基底和非均匀膜

包含了500多种材料的光学常数,新材料参数也可很容易地添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

体积较小,方便摆放和操作

可测量薄膜厚度,材料光学常数和表面粗糙度

使用电脑操作,界面中点击,即可进行测量和分析

精度

0.01nm或0.01%

准确度

0.2%或1nm

稳定性

0.02nm或0.02%

光斑尺寸

标准3mm,可以小至3um

要求样品大小

大于1mm

分光仪/检测器

400 - 1100 nm 波长范围

光谱分辨率: < 1 nm

电源 100 -250 VAC, 50/60 Hz 20W

光源

5W的钨卤素灯

色温:2800K

使用寿命:1000小时

反射探针

光学纤维探针,400um纤维芯

配有分光仪和光源支架

载样台

测量时用于放置测量的样品

 

通讯接口

USB接口,方便与电脑对接

TFCompanion软件

强大的数据库包含两500多种材料的光学常数(n:折射率,K:消失系数)

误差分析和模拟系统,保证在不同环境下对样品测量的准确性

可分析简单和复杂的膜系

 

设备尺寸

200x250x100mm

重量

4.5kg

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