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高精度桥式三坐标

参考价 ¥ 860000
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称深圳市中图仪器股份有限公司
  • 品       牌中图仪器CHOTEST
  • 型       号Mars575
  • 所  在  地深圳市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2023/8/11 13:46:12
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深圳市中图仪器科技有限公司致力于精密计量、检测仪器设备的研发、生产和销售。


公司坚持以技术创新为发展基础,拥有一支集光、机、电、信息技术于一体的技术团队,历经了十多年的技术积累和发展实践,专项技术能力强,潜心进行计量、检测技术的创新发展。


公司拥有2千平方米的现代化科研办公场地及3千平方米的精密加工、装配基地,配备了先进的科研设施和精密加工设备,按照ISO9001标准进行生产,为客户提供高质量产品。


十多年来,在精心研究长度、压力等计量检测技术的基础上,研发专用的CCD图像识别技术,设计制造了SJ2000/3000系列指示表自动检定仪、SJ5200系列螺纹综合测量机、SJ6000系列激光干涉仪,SJ5100系列高精度光栅式测长机、SJ5700系列轮廓测量仪、SJ2200系列小角度检查仪、SJ2300系列气浮式垂直度测量仪、SJ200系列高度计、ZT5000/6000系列压力自动校验仪,促进了我国计量检测行业装备技术的升级进步。


目前,公司拥有数十种自主开发的新技术产品,广泛应用于政府计量质量检测机构、汽车、航空航天、机械、冶金、电力、石化等行业,参与制定了多项国家标准,为中国的计量、检测技术进步做出了应有的贡献。


中图仪器,专注于精密计量仪器和精密检测设备的技术发展,自强不息、知难而上、勇于创新,用现代化的技术手段大幅提高测量效率和精度,图中国仪器技术之强大,铸中国产业提升之利器。


激光干涉仪,测长仪,轮廓测量仪,指示表检定仪,压力校验仪
Mars系列高精度桥式三坐标广泛应用于机械制造业,汽车工业等现代工业中。能够对各种零件和部件的尺寸、形状及相互位置关系进行检测,也可以对软材质或复杂零件进行光学扫描测量。
高精度桥式三坐标 产品信息

Mars系列高精度桥式三坐标广泛应用于机械制造业,汽车工业等现代工业中。主要检测形位公差,包括:几何元素的测量:点、线、圆、面、球、弧、椭圆、圆柱、圆 锥、键 槽、曲线、曲面;几何元素的构造:投影、中分、相交、相切、镜像、拟合、平移、垂直、平行、组合、旋转、偏置线、偏置;形位公差软件:直线度、平面度、圆度、圆柱度、 圆锥度、球度、距离、夹角、垂直度、平行度、倾斜度、位置度(2D及3D)、对称度、同轴度、 同心度等。

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任何形状都是由空间点组成的,所有的几何量测量都可以归结为空间点的测量,因此用三坐标进行空间点坐标的精确采集,是评定任何几何形状的基础。通过将被测物体置于三坐标测量机的测量空间,利用接触或非接触探测系统精确的测出被测零件表面的点在空间三个坐标位置的数值,然后这些点的空间坐标值,拟合形成测量元素,如圆、球、圆柱、圆锥、曲面等,由软件进行数学运算,求出待测的几何尺寸和形状、位置。


Mars系列高精度桥式三坐标开敞性好,视野开阔,上下零件方便,运动速度快,精度高。配备高精度的导轨、测头和控制系统,并结合计算机程序来自动控制检测流程,从而计算输出测量结果,支持测头更换架以及影像相机,同时支持精密转台等,能够对各种零件和部件的尺寸、形状及相互位置关系进行检测,也可以对软材质或复杂零件进行光学扫描测量。


性能指标

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型号行程范围(mm)外形尺寸(mm)

主机重量

(kg)

承重

(kg)

LXLYLZLALBLC
Mars Classic 5755007005001590135527721800500
精度指标:(根据ISO10360-2坐标测量机的性能评定标准)
允许示值误差MPEE (m)允许探测误差MPEP (m)
≥1.5+L/350≥1.8


主要特点

(1)三轴均采用低热膨胀系数且低内应力的花岗岩导轨,机器具有良好的温度适应性,抗时效变形能力,确保高稳定性测量。

(2)四面环抱式的气浮导轨布局,使机器保持长时间的稳定运行,并且具有高的运行精度。

(3)关键部件一体铸造成型,结构紧凑,重量轻,强度高,运行更为快速平稳、测量精度更高。

(4)低摩擦阻力的气缸,Z轴在运动过程中具有极低的摩擦阻力,提高Z轴运动的精度。

(5)采用同进口精密光栅尺,确保机器在使用过程中具有高的精度和长时间的稳定性。

(6)高刚性传动,保证了机器传动的刚性和平稳性,提高了机器的运动精度。

(7)精密花岗岩工作台,兼具高稳定性和高耐受性,机器承载能力更强;开放式工作台设计,装卸空间更为宽阔、便捷。

(8)气压检测安全装置,保证Z轴不会因为断气而下坠,保证了测头测座的安全。

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环境条件要求

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Mars三坐标测量机支持触发、扫描和非接触式探测系统,可对零部件的尺寸、形状及相互位置关系进行检测,对于软材质或复杂零部件可选择光学扫描测量。同时可支持不同类型的测针与加长杆、测头更换架、影像测量、精密转台等附件的选配。


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