眼镜架镀层测厚仪THICK600应用领域
X射线镀层测厚仪电阻电容、螺栓、螺母、弹簧类紧固件、PCB、FPC、LED、SMD、连接器、高压开关、天线、半导体、五金卫浴、汽车零部件、功能性电镀件、珠宝、首饰、装饰品、合金等
产品硬件
(1) X光管(2)Si-PIN电制冷半导体探测器(3)放大电路 (4)高清晰摄像头(5)高压系统 (6)单样品腔
工作环境
环境温度要求：15℃-30℃
环境相对湿度：<70%
眼镜架镀层测厚仪工作电源：交流220±5V
周围不能有强电磁干扰。
眼镜架镀层测厚仪THICK600技术指标
分析元素范围：K-U
眼镜架镀层测厚仪同时可分析多达5层镀层
分析厚度检出限达0.005μm
高压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
测量时间：5s-300s
样品腔尺寸：306mm×260mm
计数率:0-10000cps
长效稳定X铜光管
脉冲处理器，数据处理快速准确
手动开关样品腔，操作安全方便
三重安全保护模式
整体钢架结构、外型高贵时尚
FP软件，无标准样品时亦可测量
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
采用信噪比增强器（SNE）
内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
