简单介绍：SuperViewW1白光干涉轮廓仪通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。应用领域广泛，操作简便，可自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。

简单介绍：SuperViewW1白光干涉测厚仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

简单介绍：SuperViewW1白光干涉仪三维轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

简单介绍：中图白光干涉仪粗糙度仪设备测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。

简单介绍：SuperViewW1白光干涉仪显微镜应用领域广泛，操作简便，可自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。

简单介绍：SuperViewW1白光干涉三维形貌仪采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点。

简单介绍：CHOTEST中图仪器SuperViewW1三维白光形貌干涉仪集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。

简单介绍：SuperViewW1白光干涉光学3D表面轮廓仪可对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量，主要在半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。

简单介绍：CHOTEST中图仪器SuperViewW1白光干涉光学轮廓仪集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范围两大优点，适用于从超光滑到粗糙、平面到弧面等各种表面类型，让3D测量变得简单。

简单介绍：SuperViewW13d白光干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

简单介绍：中图仪器SuperViewW1光学白光干涉仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量，是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。

简单介绍：Chotest国产白光干涉仪既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作；集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。

简单介绍：SuperViewW1白光干涉三维光学轮廓仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。

简单介绍：中图仪器高精度白光干涉仪采用了CCD取代了显微镜中的目镜，可以直接从电脑上实时视频窗口观察样品表面形貌，也可以通过重建后的样品表面3D图像观察表面形貌，样品表面形貌展示得更加清晰，图像更大，观察更加方便。